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HIOKI IM3570 임피던스 아날라이저 4Hz - 5MHz - 오실로몰

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제조사 HIOKI
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상품명 HIOKI IM3570 임피던스 아날라이저 4Hz - 5MHz - 오실로몰
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HIOKI IM3570 Impedance Analyzer



[주요 사항]



- LCR 측정, DCR 측정, 스윕 측정의 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현

- LCR 모드에서 최속 1.5 ms(1 kHz) 및 0.5 ms (100 kHz)의 고속 측정

- 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정

- 압전 소자의 공진 특성 검사, 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 저 ESR 측정, 인덕터(코일ㆍ트랜스)의 DCR와 L-Q 측정 등에 최적

- 아날라이저 모드로 주파수 스윕 측정, 레벨 스윕 측정, 타임 인터벌 측정이 가능



측정 모드LCR(LCR 측정), 분석기(스윕 측정), 연속 측정
측정 파라미터Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (직류 저항) X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
측정 범위100 mΩ~100 MΩ, 12 레인지 (모든 파라미터는 Z로 규정)
표시 범위Z, Y, Rs, Rp, Rdc X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ± (0.000000 [단위] ~9.999999 G [단위] Z,Y만 절대값 표시 θ : ± (0.000 ° ~180.000 °) D : ± (0.000000~9.999999) Q : ± (0.00~99999.99), Δ % : ± (0.0000 % ~999.9999 %)
기본 정확도Z : ± 0.08 % rdg. θ : ± 0.05 °
측정 주파수4 Hz~5 MHz (설정 분해능 5자리 분해능, 단 최소 분해능 10 mHz)
측정 신호 레벨통상 모드 : V 모드, CV 모드 : 5mV~5Vrms (1MHz까지) 10mV~1Vrms (1.0001MHz~5MHz) 1mVrms 단계 CC 모드 : 10μA~50mArms (1MHz까지) 10μA~10mArms (1.0001MHz~5MHz) 10μArms 단계 저 임피던스 고정밀도 모드 V 모드, CV 모드 : 5mV~1Vrms (100kHz까지) 1mVrms 단계 CC 모드 : 10μA~100mArms (100kHz까지의 100mΩ와 1Ω 레인지), 10μArms 단계
출력 임피던스통상 모드 : 100 Ω, 저 임피던스 고정밀도 모드 : 10 Ω
디스플레이컬러 TFT 5.7 inch, 표시 ON / OFF 설정 가능
측정 시간0.5 ms (100 kHz, FAST, 디스플레이 OFF, 대표값)
기능DC 바이어스 측정, 콤퍼레이터, BIN 측정(분류 기능), 패널 로드/세이브, 메모리 기능
인터페이스EXT I / O (핸들러) RS-232C, GP-IB, USB 통신, USB 메모리, LAN
전원AC 90~264 V, 60 Hz, 150 VA max
치수 · 질량330W × 119H × 307D mm, 5.8 kg
부속품전원 코드 × 1, 사용설명서 × 1, 통신 사용설명서 (CD-R) × 1




 


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